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UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011  UNE

Estado: Vigente / 2011-12-21

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida de funcionamiento a alta temperatura.

UNE-EN 60749-30:2005/A1:2011  UNE

Estado: Anulada / 2023-09-22

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad.

UNE-EN 60749-34:2011  UNE

Estado: Vigente / 2011-07-20

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 34: Ciclo de potencia.

UNE-EN 60749-15:2011  UNE

Estado: Anulada / 2023-08-19

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados con agujeros pasantes.

UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011  UNE

Estado: Vigente / 2011-01-19

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia de la pastilla al cizallamiento.

UNE-EN 60749-32:2004/A1:2011  UNE

Estado: Vigente / 2011-01-19

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada externamente).

UNE-EN 61988-4:2007  UNE

Estado: Anulada / 2023-09-21

Paneles de pantalla de plasma. Parte 4: Métodos de ensayo ambientales y de resistencia mecánica. (IEC 61988-4:2007).

UNE-EN 61988-3-1:2006  UNE

Estado: Vigente / 2006-04-12

Paneles de pantalla de plasma. Parte 3-1: Interfaz mecánica.

UNE-EN 60749-30:2005  UNE

Estado: Anulada / 2023-09-22

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad.

UNE-EN 61988-1:2005  UNE

Estado: Anulada / 2014-08-31

Paneles de pantalla de plasma. Parte 1: Terminología y símbolos.

UNE-EN 60749-34:2005  UNE

Estado: Anulada / 2013-12-01

Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos. Parte 34: Ciclo de potencia.

UNE-EN 60749-33:2005  UNE

Estado: Vigente / 2005-03-16

Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave no polarizada

UNE-EN 60749-24:2005  UNE

Estado: Vigente / 2005-03-16

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST no polarizado.

UNE-EN 60749-23:2005  UNE

Estado: Vigente / 2005-03-16

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida de funcionamiento a alta temperatura.

UNE-EN 60749-29:2004  UNE

Estado: Anulada / 2014-07-10

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29: Ensayo de enclavamiento.

UNE-EN 60749-14:2004  UNE

Estado: Vigente / 2004-06-11

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 14: Robustez de los terminales (integridad de los conectores).

UNE-EN 60749-20:2004  UNE

Estado: Anulada / 2012-09-02

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 20: Resistencia de los dispositivos de montaje superficial (SMD) encapsulados en plástico al efecto combinado de humedad y de calor de soldadura.

UNE-EN 60749-25:2004  UNE

Estado: Vigente / 2004-06-11

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 25: Ciclos de temperatura.

UNE-EN 60749-1:2004  UNE

Estado: Vigente / 2004-05-28

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades.

UNE-EN 60749-8:2004  UNE

Estado: Vigente / 2004-05-28

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 8: Estanquidad.

UNE-EN 61988-2-2:2004  UNE

Estado: Anulada / 2015-03-01

Paneles de pantalla de plasma. Parte 2-2: Métodos de medida. Optoeléctrico.

UNE-EN 60191-6-10:2004  UNE

Estado: Vigente / 2004-05-28

Normalización mecánica de dispositivos de semiconductores. Parte 6-10: Reglas generales para la preparación de los diseños de los paquetes de dispositivos de semiconductores de montaje en superficie. Dimensiones de los paquetes P-VSON.

UNE-EN 60191-6-12:2004  UNE

Estado: Anulada / 2014-07-13

Normalización mecánica de dispositivos de semiconductores. Parte 6-12: Reglas generales para la preparación de los diseños de los paquetes de dispositivos de semiconductores de montaje en superficie. Guía de diseño de rejilla matricial de nodos de paso fino (FLGA). Tipo rectangular.

UNE-EN 60749-22:2004  UNE

Estado: Vigente / 2004-03-26

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 22: Robustez de las uniones soldadas.

UNE-EN 60749-36:2004  UNE

Estado: Vigente / 2004-03-18

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 36: Aceleración constante.

UNE-EN 60749-31:2004  UNE

Estado: Vigente / 2004-03-18

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada internamente).

UNE-EN 60749-32:2004  UNE

Estado: Vigente / 2004-03-18

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada externamente).

UNE-EN 60749-19:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-11-21

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia de la pastilla al cizallamiento.

UNE-EN 60749-18:2003  UNE

Estado: Anulada / 2022-05-16

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total)

UNE-EN 60749-15:2003  UNE

Estado: Anulada / 2013-12-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados con agujeros pasantes.

UNE-EN 60749-17:2003  UNE

Estado: Anulada / 2022-05-03

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones.

UNE-EN 60749-16:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-11-21

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección del ruido de impacto de partículas (PIND).

UNE-EN 60749-5:2003  UNE

Estado: Anulada / 2020-05-16

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización.

UNE-EN 60191-6-2:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-10-10

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 6-2: Reglas generales para la preparación de los diseños de los paquetes de dispositivos semiconductores de montaje en superficie. Guía de diseño para paquetes de terminales de columnas y bolas de paso 1,50 mm, 1.27 mm y 1,00 mm

UNE-EN 61988-2-1:2003  UNE

Estado: Anulada / 2015-03-01

Paneles de pantalla de plasma. Parte 2-1: Métodos de medida. Ópticos.

UNE-EN 60749-7:2003  UNE

Estado: Anulada / 2014-07-22

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales..

UNE-EN 60749-11:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-05-30

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 11: Variaciones rápidas de temperatura. Método de los dos baños.

UNE-EN 60749-6:2003  UNE

Estado: Anulada / 2020-04-08

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.

UNE-EN 60749-9:2003  UNE

Estado: Anulada / 2020-04-08

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.

UNE-EN 60749-10:2003  UNE

Estado: Anulada / 2025-06-02

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choques mecánicos.

UNE-EN 60749-12:2003  UNE

Estado: Anulada / 2021-01-18

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibraciones, frecuencias variables.

UNE-EN 60749-13:2003  UNE

Estado: Anulada / 2021-03-23

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.

UNE-EN 60749-3:2003  UNE

Estado: Anulada / 2020-04-08

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.

UNE-EN 60749-2:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-05-30

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión atmosférica.

UNE-EN 60749-4:2003  UNE

Estado: Anulada / 2020-04-08

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Ensayo continuo fuertemente acelerado de esfuerzo de calor húmedo (HAST).

UNE-EN 60191-4/A2:2003  UNE

Estado: Anulada / 2016-11-14

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 4: Sistema de codificación y clasificación para los tipos y formas de los encapsulados de dispositivos semiconductores.

UNE-EN 60749/A2:2002  UNE

Estado: Anulada / 2005-10-01

Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos.

UNE-EN 60191-4/A1:2002  UNE

Estado: Anulada / 2016-11-14

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 4: Sistema de codificación y clasificación para los tipos y formas de los encapsulados de dispositivos semiconductores.

UNE-EN 60191-6-8:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-06-28

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 6-8: Reglas generales para la preparación de los diseños de los paquetes de dispositivos semiconductores de montaje en superficie. Guía de diseño de un conjunto cuadrángulo cerámico recubierto de vidrio (G-QFP).

UNE-EN 60191-6-1:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-06-28

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 6-1: Reglas generales para la preparación de los diseños de los paquetes de dispositivos semiconductores de montaje en superficie. Guía de diseño de los terminales en forma de ala de gaviota emplomada.