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Norma
UNE-EN 60749-22:2004

UNE-EN 60749-22:2004

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 22: Robustez de las uniones soldadas.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 22: Bond strength

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 22: Robustesse des contacts soudés.

Fecha Edición:
2004-03-26 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-22:2003 (Idéntico)

IEC 60749-22:2002 (Idéntico)

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Formato físico y digital

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