UNE-EN 60749-10:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choques mecánicos.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 10: Chocs mécaniques