UNE-EN 60749-16:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección del ruido de impacto de partículas (PIND).

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

Dispositifs à semiconducteurs. Méthodes d'essais mécaniques et climatiques. Partie 16: Détection de bruit d'impact de particules (PIND)