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Norma
UNE-EN 60749-1:2004

UNE-EN 60749-1:2004

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 1: Généralités

Fecha Edición:
2004-05-28 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-1:2003 (Idéntico)

IEC 60749-1:2002 (Idéntico)

IEC 60749-1:2002/CORR:2003 (Idéntico)

Anulaciones:

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Esta norma está disponible en:

Formato físico y digital

Español / Inglés