UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida de funcionamiento a alta temperatura.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 23: Durée de vie en fonctionnemement à haute température