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Comité

Comité:

CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Secretaría:
UNE - ASOCIACIÓN ESPAÑOLA DE NORMALIZACIÓN
Relaciones Internacionales:

IEC/TC 47  Dispositivos de semiconductores

CLC/TC 47X 

Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 47: 299

UNE-EN 60749-29:2011 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-11-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29: Ensayo de enclavamiento. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)

UNE-EN 60749-40:2011 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-11-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de ensayo de caída al nivel de la plataforma mediante la utilización de galgas extensométricas (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)

UNE-EN 62047-5:2011 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 5: Interruptores RF MEMS. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)

UNE-EN 62047-7:2011 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 7: Filtro y duplexor MEMS BAW para el control y la selección de radiofrecuencias. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)

UNE-EN 60749-21:2011 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-11-01

Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos. Parte 21: Soldabilidad. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)

UNE-EN 60191-6-12:2011 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-11-01

Normalización mecánica de dispositivos de semiconductores. Parte 6-12: Reglas generales para la preparación de los diseños de los paquetes de dispositivos de semiconductores de montaje en superficie. Guía de diseño de rejilla matricial de nodos de paso fino (FLGA). (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)

UNE-EN 62258-2:2011 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-10-01

Productos de pastillas semiconductores. Parte 2: Formatos de intercambio de datos. (Ratificada por AENOR en octubre de 2011.)

UNE-EN 62047-8:2011 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-09-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 8: Métodos de ensayo de curvado en banda la medida de propiedades de tensión de las películas finas(Ratificada por AENOR en septiembre de 2011.)

UNE-EN 60191-6-17:2011 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-09-01

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 6-17: Reglas generales para la preparación de los diseños de los paquetes de dispositivos semiconductores de montaje en superficie. Guía de diseño para paquetes en pila. Matriz de rejilla de bola de paso fino y matriz de rejilla de nodo de paso fino (P-PFBGA and P-PFLGA) (Ratificada por AENOR en septiembre de 2011.)

UNE-EN 60749-34:2011

Estado: VIGENTE  /  2011-07-20

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 34: Ciclo de potencia.

UNE-EN 62132-2:2011 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-07-01

Circuitos integrados. Medida de la inmunidad electromagnética. Parte 2: Medida de la inmunidad radiada. Método de la celda TEM y de la celda TEM en banda ancha (Ratificada por AENOR en julio de 2011.)

UNE-EN 60747-16-4:2004/A1:2011 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-04-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-4: Circuitos integrados de microondas. Interruptores. (Ratificada por AENOR en abril de 2011.)

UNE-EN 62374-1:2010 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-03-01

Dispositivos semiconductores. Ensayo de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas (Ratificada por AENOR en marzo de 2011.)

UNE-EN 62047-4:2010 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-02-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 4: Especificaciones generales para MEMS. (Ratificada por AENOR en febrero de 2011.)

UNE-EN 60191-6-20:2010 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-02-01

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 6-20: Reglas generales para la preparación de los diseños de los paquetes de dispositivos semiconductores de montaje en superficie. Métodos de medida para dimensiones de paquetes pequeños con salidas en J. (Ratificada por AENOR en febrero de 2011.)

UNE-EN 60191-6-21:2010 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-02-01

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 6-21: Reglas generales para la preparación de los diseños de los paquetes de dispositivos semiconductores de montaje en superficie. Métodos de medida para dimensiones de paquetes pequeños (SOP). (Ratificada por AENOR en febrero de 2011.)

UNE-EN 62258-1:2010 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2011-02-01

Productos de pastillas semiconductores. Parte 1: Compra y uso. (Ratificada por AENOR en febrero de 2011.)

UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011

Estado: VIGENTE  /  2011-01-19

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia de la pastilla al cizallamiento.

UNE-EN 60749-32:2004/A1:2011

Estado: VIGENTE  /  2011-01-19

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada externamente).

UNE-EN 62418:2010 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2010-10-01

Dispositivos semiconductores. Ensayo de esfuerzos para metalización en vacio (Ratificada por AENOR en octubre de 2010.)

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