UNE-EN 60749-29:2011 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29: Ensayo de enclavamiento. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 29: Essai de verrouillage (Entérinée par l’AENOR en novembre 2011.)