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Número de resultados: 87
UNE-EN IEC 62031:2020/A11:2022 UNE
Estado: Vigente / 2022-09-28
Módulos LED para alumbrado general. Requisitos de seguridad.
CTN 205/SC 34A Lámparas
UNE-EN IEC 62384:2020 UNE
Estado: Vigente / 2020-10-07
Dispositivos de control electrónicos alimentados en corriente continua o corriente alterna para módulos LED. Requisitos de funcionamiento.
CTN 205/SC 34 Lámparas y equipos asociados
UNE-EN IEC 62031:2020 UNE
Estado: Vigente / 2020-06-24
UNE-EN 62031:2009/A2:2015 UNE
Estado: Anulada / 2022-12-19
UNE-EN 62031:2009/A1:2013 UNE
UNE-EN 62031:2009 UNE
UNE 20822:1993 UNE
Estado: Vigente / 1993-12-29
CEI 822 VSB. Bus paralelo de subsistemas del Bus CEI 821. VME-Bus.
CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores
UNE 21821:1993 UNE
Estado: Anulada / 1997-11-19
BUS PARA SISTEMAS DE MICROPROCESADORES DE DATOS DE 1 A 4 OCTETOS.
CTN 209 Equipos electrónicos
UNE 20700-11:1991 UNE
Estado: Vigente / 1991-09-12
Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Especificación intermedia para los dispositivos discretos.
UNE-EN 60747-5-3:2001 UNE
Estado: Anulada / 2023-10-05
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medida. (Ratificada por AENOR en octubre de 2001)
UNE-EN 60747-5-1:2001 UNE
Estado: Anulada / 2020-09-03
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos. Generalidades. (Ratificada por AENOR en octubre de 2001).
UNE-EN 60747-5-2:2001 UNE
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-2: Dispositivos optoelectrónicos. Clasificaciones y características fundamentales. (Ratificada por AENOR en octubre de 2001).
UNE-EN 60146-2:2000 UNE
Estado: Vigente / 2001-12-01
Convertidores de semiconductores. Parte 2: Convertidores de semiconductores autoconmutados incluidos los convertidores de corriente continua directos (Ratificada por AENOR en diciembre de 2001).
CTN 203/SC 22 Electrónica de potencia
UNE-EN 60747-16-1:2002 UNE
Estado: Vigente / 2002-07-01
Dispositivos semiconductores. Parte 16-1: Circuitos impresos de microondas. Amplificadores. (Ratificada por AENOR en julio de 2002)
UNE-EN 60747-5-1:2001/A1:2002 UNE
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos. Generalidades. (Ratificada por AENOR en julio de 2002)
UNE-EN 60747-16-3:2002 UNE
Estado: Vigente / 2002-12-01
Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: Circuitos impresos de microondas. Convertidores de frecuencia. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2002)
UNE-EN 60747-5-1:2001/A2:2002 UNE
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos. Generalidades. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
UNE-EN 60747-5-2:2001/A1:2002 UNE
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-2: Dispositivos optoelectrónicos. Clasificaciones y características fundamentales. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
UNE-EN 60747-5-3:2001/A1:2002 UNE
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medida. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
UNE-EN 60747-15:2004 UNE
Estado: Anulada / 2014-01-21
Dispositivos discretos de semiconductores. Parte 15: Dispositivos de potencia aislados de semiconductores. (Ratificada por AENOR en mayo de 2004)
UNE-EN 60747-16-10:2004 UNE
Estado: Vigente / 2004-11-01
Dispositivos de semiconductores . Parte 16-10:Plan de aprobación de tecnología (TAS) para circuitos integrados de microondas monolíticos (Ratificada por AENOR en noviembre de 2004)
UNE-EN 60747-16-4:2004 UNE
Dispositivos de semiconductores. Parte 16-4: Circuitos integrados de microondas. Interruptores (Ratificada por AENOR en noviembre de 2004)
UNE-EN 62258-2:2005 UNE
Estado: Anulada / 2014-06-29
Productos de pastillas semiconductores. Parte 2: Formatos de datos de intercambio. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2005.)
UNE-EN 61967-2:2005 UNE
Estado: Vigente / 2006-01-01
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 2: Mediciones de la emisiones radiadas, método de célula TEM y célula TEM de banda ancha. (Ratificada por AENOR en enero de 2006.)
UNE-EN 62258-1:2005 UNE
Estado: Anulada / 2013-10-01
Productos de pastillas semiconductores. Parte 1: Requisitos para compra y uso. (Ratificada por AENOR en enero de 2006.)
UNE-EN 62047-1:2006 UNE
Estado: Anulada / 2019-02-11
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 1: Términos y definiciones (IEC 62047-1:2005) (Ratificada por AENOR en septiembre de 2006.)
UNE-EN 62258-5:2006 UNE
Estado: Vigente / 2007-01-01
Productos de pastillas semiconductores. Parte 5: Requisitos para la información relativa a la simulación eléctrica (IEC 62258-5:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
UNE-EN 62258-6:2006 UNE
Productos de pastillas semiconductores. Parte 6: Requisitos para la información relacionada con la simulación térmica. (IEC 62258-6:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
UNE-EN 62047-2:2006 UNE
Dispositivos semiconductores. Parte 2: Dispositivos micro-electromecánicos. Métodos de ensayo de tensión de materiales de película fina (IEC 62047-2:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
UNE-EN 62047-3:2006 UNE
Dispositivos semiconductores. Parte 3: Dispositivos micro-electromecánicos. Pieza de ensayo patrón de película fina para ensayo de tensión (IEC 62047-3:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
UNE-EN 60747-16-1:2002/A1:2007 UNE
Estado: Vigente / 2007-05-01
Dispositivos semiconductores. Parte 16-1: Circuitos impresos de microondas. Amplificadores. (IEC 60747-16-1:2001/A1:2007). (Ratificada por AENOR en mayo de 2007.)
UNE-EN 60747-16-3:2002/A1:2009 UNE
Estado: Vigente / 2009-07-01
Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: Circuitos impresos de microondas. Convertidores de frecuencia. (Ratificada por AENOR en julio de 2009.)
UNE-EN 62047-6:2010 UNE
Estado: Vigente / 2010-06-01
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 4: Métodos de ensayo de la fatiga axial de los materiales de película. (Ratificada por AENOR en junio de 2010.)
UNE-EN 62047-4:2010 UNE
Estado: Vigente / 2011-02-01
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 4: Especificaciones generales para MEMS. (Ratificada por AENOR en febrero de 2011.)
UNE-EN 62258-1:2010 UNE
Productos de pastillas semiconductores. Parte 1: Compra y uso. (Ratificada por AENOR en febrero de 2011.)
UNE-EN 60747-5-5:2011 UNE
Estado: Anulada / 2023-08-25
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos. Fotoacopladores. (Ratificada por AENOR en mayo de 2011.)
UNE-EN 60747-16-4:2004/A1:2011 UNE
Estado: Vigente / 2011-04-01
Dispositivos de semiconductores. Parte 16-4: Circuitos integrados de microondas. Interruptores. (Ratificada por AENOR en abril de 2011.)
UNE-EN 62047-5:2011 UNE
Estado: Vigente / 2011-11-01
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 5: Interruptores RF MEMS. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)
UNE-EN 62047-7:2011 UNE
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 7: Filtro y duplexor MEMS BAW para el control y la selección de radiofrecuencias. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)
UNE-EN 62047-12:2011 UNE
Estado: Vigente / 2012-02-01
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 12: Método de ensayo de fatiga al doblado de materiales de película fina utilizando vibración resonante de las estructuras MEMS. (Ratificada por AENOR en febrero de 2012.)
UNE-EN 62047-10:2011 UNE
Estado: Vigente / 2011-12-01
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 10: Ensayo de compresión de los micropilares en materiales MEMS. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2011.)
UNE-EN 62258-2:2011 UNE
Estado: Vigente / 2011-10-01
Productos de pastillas semiconductores. Parte 2: Formatos de intercambio de datos. (Ratificada por AENOR en octubre de 2011.)
UNE-EN 62047-8:2011 UNE
Estado: Vigente / 2011-09-01
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 8: Métodos de ensayo de curvado en banda la medida de propiedades de tensión de las películas finas(Ratificada por AENOR en septiembre de 2011.)
UNE-EN 60747-15:2012 UNE
Estado: Vigente / 2012-06-01
Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 15: Dispositivos de potencia de semiconductores aislados (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)
UNE-EN 62047-9:2011 UNE
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 9: Medida de la resistencia de la unión oblea a oblea para NEMS. (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)
UNE-EN 62047-14:2012 UNE
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 14: Método de medición del límite de formación de los materiales de película metálica. (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)
UNE-EN 62047-13:2012 UNE
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 13: Métodos de medición del ensayo tipo de resistencia adhesiva al curvado y cizallamiento para estructuras MEMS (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)
UNE-EN 62047-19:2013 UNE
Estado: Vigente / 2013-11-01
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)
UNE-EN 62047-18:2013 UNE
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 18: Métodos de ensayo de doblado para materiales de película fina. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)
UNE-EN 62047-11:2013 UNE
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 11: Método de ensayo para coeficientes de expansión térmica lineales de materiales MEMS independientes (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)
