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UNE-EN IEC 60747-15:2024  UNE

Estado: Vigente / 2025-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 15: Dispositivos discretos. Dispositivos de potencia de semiconductores aislados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2025.)

UNE-EN IEC 60747-16-9:2024  UNE

Estado: Vigente / 2024-12-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-9: Circuitos integrados de microondas. Cambiadores de fase (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2024.)

UNE-EN IEC 63364-1:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-03-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para el sistema IOT. Parte 1: Método de ensayo de detección de variación acústica. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2023.)

UNE-EN IEC 60747-16-8:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-02-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-8: Circuitos integrados de microondas. Limitadores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2023.)

UNE-EN IEC 60747-16-7:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-02-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-7: Circuitos integrados de microondas. Atenuadores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2023.)

UNE-EN IEC 62031:2020/A11:2022  UNE

Estado: Vigente / 2022-09-28

Módulos LED para alumbrado general. Requisitos de seguridad.

UNE-EN IEC 63373:2022  UNE

Estado: Vigente / 2022-05-01

Directrices del método de ensayo de resistencia dinámica para dispositivos de conversión de energía basados en GaN HEMT (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

UNE-EN IEC 63244-1:2021  UNE

Estado: Vigente / 2021-12-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para transferencia y carga inalámbrica de energía. Parte 1: Requisitos y especificaciones generales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2021.)

UNE-EN IEC 60747-17:2020/AC:2021-02  UNE

Estado: Vigente / 2021-03-01

Dispositivos semiconductores. Parte 17: Acoplador magnético y capacitivo para aislamiento básico y reforzado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2021.)

UNE-EN IEC 60747-17:2020  UNE

Estado: Vigente / 2021-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 17: Acoplador magnético y capacitivo para aislamiento básico y reforzado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2021.)

UNE-EN IEC 62384:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-10-07

Dispositivos de control electrónicos alimentados en corriente continua o corriente alterna para módulos LED. Requisitos de funcionamiento.

UNE-EN IEC 60747-5-5:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-10-01

Dispositivos semiconductores. Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos. Fotoacopladores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

UNE-EN 60747-16-5:2013/A1:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-10-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas. Osciladores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

UNE-EN IEC 62031:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-06-24

Módulos LED para alumbrado general. Requisitos de seguridad.

UNE-EN IEC 60747-16-6:2019  UNE

Estado: Vigente / 2019-10-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-6: Circuitos integrados de microondas. Multiplicadores de frecuencia (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2019.)

UNE-EN IEC 62969-4:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-10-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 4: Método de evaluación de la interfaz de datos para sensores de vehículos de automoción (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-3:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-08-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 3: Captación de energía piezoeléctrica impulsada por choque para sensores de vehículos automóviles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-2:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-06-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 2: Métodos de evaluación de la eficiencia de la transmisión de energía inalámbrica utilizando la resonancia para sensores de vehículos automóviles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-1:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-03-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 1: Requisitos generales de interfaz de alimentación para los sensores del vehículo automóvil (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2018.)

UNE-EN 60747-16-3:2002/A2:2017  UNE

Estado: Vigente / 2018-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: Circuitos impresos de microondas. Convertidores de frecuencia. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2018.)

UNE-EN 60747-16-4:2004/A2:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-12-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-4: Circuitos integrados de microondas. Interruptores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2017.)

UNE-EN 60747-16-1:2002/A2:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-07-01

Dispositivos semiconductores. Parte 16-1: Circuitos impresos de microondas. Amplificadores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

UNE-EN 62047-25:2016  UNE

Estado: Vigente / 2017-01-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 25: Tecnología de fabricación de MEMS basados en silicio. Método de medida de la resistencia al cizallamiento y al desprendimiento del área de micro unión. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2017.)

UNE-EN 62047-26:2016  UNE

Estado: Vigente / 2016-06-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 26: Descripción y métodos de medición para microsurcos y estructuras de agujas (Ratificada por AENOR en junio de 2016.)

UNE-EN 62047-1:2016  UNE

Estado: Vigente / 2016-05-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 1: Términos y definiciones (Ratificada por AENOR en mayo de 2016.)

UNE-EN 62047-17:2015  UNE

Estado: Vigente / 2015-08-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 17: Método de ensayo de bulto para medir las propiedades mecánicas de las películas finas (Ratificada por AENOR en agosto de 2015.)

UNE-EN 62047-16:2015  UNE

Estado: Vigente / 2015-08-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 16: Métodos de ensayo para determinar la tensión residual de películas MEMS. Métodos de curvatura de la oblea y de deflexión del haz (Ratificada por AENOR en agosto de 2015.)

UNE-EN 62047-20:2014  UNE

Estado: Vigente / 2014-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 20: Giróscopos (Ratificada por AENOR en noviembre de 2014.)

UNE-EN 62047-21:2014  UNE

Estado: Vigente / 2014-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 21: Método de ensayo para la relación de Poisson de materiales MEMS de película delgada (Ratificada por AENOR en noviembre de 2014.)

UNE-EN 62047-22:2014  UNE

Estado: Vigente / 2014-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 22: Métodos de ensayo de tensión electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles (Ratificada por AENOR en noviembre de 2014.)

UNE-EN 62047-19:2013  UNE

Estado: Vigente / 2013-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)

UNE-EN 62047-18:2013  UNE

Estado: Vigente / 2013-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 18: Métodos de ensayo de doblado para materiales de película fina. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)

UNE-EN 62047-11:2013  UNE

Estado: Vigente / 2013-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 11: Método de ensayo para coeficientes de expansión térmica lineales de materiales MEMS independientes (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)

UNE-EN 60747-16-5:2013  UNE

Estado: Vigente / 2013-10-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas. Osciladores. (Ratificada por AENOR en octubre de 2013.)

UNE-EN 60747-15:2012  UNE

Estado: Vigente / 2012-06-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 15: Dispositivos de potencia de semiconductores aislados (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)

UNE-EN 62047-9:2011  UNE

Estado: Vigente / 2012-06-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 9: Medida de la resistencia de la unión oblea a oblea para NEMS. (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)

UNE-EN 62047-14:2012  UNE

Estado: Vigente / 2012-06-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 14: Método de medición del límite de formación de los materiales de película metálica. (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)

UNE-EN 62047-13:2012  UNE

Estado: Vigente / 2012-06-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 13: Métodos de medición del ensayo tipo de resistencia adhesiva al curvado y cizallamiento para estructuras MEMS (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)

UNE-EN 62047-12:2011  UNE

Estado: Vigente / 2012-02-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 12: Método de ensayo de fatiga al doblado de materiales de película fina utilizando vibración resonante de las estructuras MEMS. (Ratificada por AENOR en febrero de 2012.)

UNE-EN 62047-10:2011  UNE

Estado: Vigente / 2011-12-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 10: Ensayo de compresión de los micropilares en materiales MEMS. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2011.)

UNE-EN 62047-5:2011  UNE

Estado: Vigente / 2011-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 5: Interruptores RF MEMS. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)

UNE-EN 62047-7:2011  UNE

Estado: Vigente / 2011-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 7: Filtro y duplexor MEMS BAW para el control y la selección de radiofrecuencias. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)

UNE-EN 62047-8:2011  UNE

Estado: Vigente / 2011-09-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 8: Métodos de ensayo de curvado en banda la medida de propiedades de tensión de las películas finas(Ratificada por AENOR en septiembre de 2011.)

UNE-EN 60747-16-4:2004/A1:2011  UNE

Estado: Vigente / 2011-04-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-4: Circuitos integrados de microondas. Interruptores. (Ratificada por AENOR en abril de 2011.)

UNE-EN 62047-4:2010  UNE

Estado: Vigente / 2011-02-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 4: Especificaciones generales para MEMS. (Ratificada por AENOR en febrero de 2011.)

UNE-EN 62047-6:2010  UNE

Estado: Vigente / 2010-06-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 4: Métodos de ensayo de la fatiga axial de los materiales de película. (Ratificada por AENOR en junio de 2010.)

UNE-EN 60747-16-3:2002/A1:2009  UNE

Estado: Vigente / 2009-07-01

Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: Circuitos impresos de microondas. Convertidores de frecuencia. (Ratificada por AENOR en julio de 2009.)

UNE-EN 60747-16-1:2002/A1:2007  UNE

Estado: Vigente / 2007-05-01

Dispositivos semiconductores. Parte 16-1: Circuitos impresos de microondas. Amplificadores. (IEC 60747-16-1:2001/A1:2007). (Ratificada por AENOR en mayo de 2007.)

UNE-EN 62047-2:2006  UNE

Estado: Vigente / 2007-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 2: Dispositivos micro-electromecánicos. Métodos de ensayo de tensión de materiales de película fina (IEC 62047-2:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

UNE-EN 62047-3:2006  UNE

Estado: Vigente / 2007-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 3: Dispositivos micro-electromecánicos. Pieza de ensayo patrón de película fina para ensayo de tensión (IEC 62047-3:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)