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Comité

Comité:

CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Secretaría:
UNE - ASOCIACIÓN ESPAÑOLA DE NORMALIZACIÓN
Relaciones Internacionales:

IEC/TC 47  Dispositivos de semiconductores

CLC/TC 47X 

Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 47: 299

UNE-EN IEC 60747-15:2024 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 15: Dispositivos discretos. Dispositivos de potencia de semiconductores aislados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2025.)

UNE-EN IEC 60747-16-9:2024 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2024-12-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-9: Circuitos integrados de microondas. Cambiadores de fase (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2024.)

UNE-EN IEC 60749-5:2024 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2024-03-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2024.)

UNE-EN IEC 62228-3:2019/AC:2023-07 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2023-08-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 3: Transceptores CAN. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2023.)

UNE-EN IEC 61967-8:2023 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2023-07-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 8: Medición de las emisiones radiadas. Método IC de líneas TEM de placas. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2023.)

UNE-EN IEC 63287-2:2023 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2023-06-01

Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 2: Concepto de perfil de misión (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2023.)

UNE-EN IEC 63364-1:2023 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2023-03-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para el sistema IOT. Parte 1: Método de ensayo de detección de variación acústica. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2023.)

UNE-EN IEC 60747-16-7:2023 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2023-02-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-7: Circuitos integrados de microondas. Atenuadores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2023.)

UNE-EN IEC 60747-16-8:2023 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2023-02-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-8: Circuitos integrados de microondas. Limitadores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2023.)

UNE-EN IEC 62228-6:2022 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2023-01-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 6: Transceptores PSI5 (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)

UNE-EN IEC 60749-37:2022 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2023-01-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caída a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)

UNE-EN IEC 60749-10:2022 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2022-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y submontaje. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2022.)

UNE-EN IEC 62228-7:2022 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2022-05-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 7: Transceptores CXPI (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

UNE-EN IEC 63373:2022 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2022-05-01

Directrices del método de ensayo de resistencia dinámica para dispositivos de conversión de energía basados en GaN HEMT (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

UNE-EN IEC 60749-28:2022 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2022-05-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

UNE-EN IEC 60749-39:2022 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2022-03-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 39: Medida de la difusividad de la humedad y solubilidad en agua en materiales orgánicos para componentes semiconductores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2022.)

UNE-EN IEC 63244-1:2021 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2021-12-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para transferencia y carga inalámbrica de energía. Parte 1: Requisitos y especificaciones generales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2021.)

UNE-EN IEC 62435-9:2021 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2021-11-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 9: Casos especiales (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)

UNE-EN IEC 63287-1:2021 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2021-11-01

Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 1: Guías para la calificación de fiabilidad de circuitos integrados. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)

UNE-EN IEC 62228-5:2021 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2021-07-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 5: Transceptores Ethernet (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2021.)

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