UNE-EN IEC 60749-7:2026 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2026.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en février 2026.)