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UNE-EN IEC 62435-8:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-10-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 8: Dispositivos electrónicos pasivos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

UNE-EN IEC 62228-5:2021  UNE

Estado: Vigente / 2021-07-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 5: Transceptores Ethernet (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2021.)

UNE-EN IEC 60747-17:2020/AC:2021-02  UNE

Estado: Vigente / 2021-03-01

Dispositivos semiconductores. Parte 17: Acoplador magnético y capacitivo para aislamiento básico y reforzado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2021.)

UNE-EN IEC 62435-7:2021  UNE

Estado: Vigente / 2021-04-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 7: Dispositivos micro-electromecánicos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2021.)

UNE-EN IEC 61967-1:2019  UNE

Estado: Vigente / 2025-12-15

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 1: Definiciones y condiciones generales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2019.)

UNE-EN IEC 62433-6:2020  UNE

Estado: Vigente / 2021-01-01

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 6: Modelos de circuitos integrados para la simulación del comportamiento de la inmunidad de pulso. Inmunidad de pulso conducida (ICIM-CPI) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2021.)

UNE-EN IEC 63287-1:2021  UNE

Estado: Vigente / 2021-11-01

Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 1: Guías para la calificación de fiabilidad de circuitos integrados. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)

UNE-EN IEC 62435-9:2021  UNE

Estado: Vigente / 2025-12-15

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 9: Casos especiales (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)

UNE-EN IEC 63373:2022  UNE

Estado: Vigente / 2022-05-01

Directrices del método de ensayo de resistencia dinámica para dispositivos de conversión de energía basados en GaN HEMT (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

UNE-EN IEC 63244-1:2021  UNE

Estado: Vigente / 2021-12-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para transferencia y carga inalámbrica de energía. Parte 1: Requisitos y especificaciones generales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2021.)

UNE-EN IEC 60749-10:2022  UNE

Estado: Vigente / 2022-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y submontaje. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2022.)

UNE-EN IEC 60749-28:2022  UNE

Estado: Vigente / 2025-12-15

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

UNE-EN IEC 60747-15:2024  UNE

Estado: Vigente / 2025-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 15: Dispositivos discretos. Dispositivos de potencia de semiconductores aislados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2025.)

UNE-EN IEC 63378-3:2025  UNE

Estado: Vigente / 2025-08-01

Normalización térmica en paquetes de semiconductores. Parte 3: Modelos de simulación de circuitos térmicos de paquetes de semiconductores discretos para análisis transitorios (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2025.)

UNE-EN IEC 60749-5:2024  UNE

Estado: Vigente / 2024-03-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2024.)

UNE-EN IEC 60747-16-9:2024  UNE

Estado: Vigente / 2024-12-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-9: Circuitos integrados de microondas. Cambiadores de fase (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2024.)

UNE-EN IEC 60749-34-1:2025  UNE

Estado: Vigente / 2025-09-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 34-1: Ensayo de ciclos de potencia para módulos semiconductores de potencia. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2025.)

UNE-EN IEC 60749-22-2:2026  UNE

Estado: Vigente / 2026-02-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 22-2: Robustez de las uniones soldadas. Métodos de ensayo de corte de unión por cable (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)

UNE-EN IEC 60749-7:2026  UNE

Estado: Vigente / 2026-02-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)

UNE-EN IEC 60749-22-1:2026  UNE

Estado: Vigente / 2026-02-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 22-1: Robustez de las uniones soldadas. Métodos de ensayo de tracción de unión por cable (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)

UNE-EN IEC 60749-24:2026  UNE

Estado: Vigente / 2026-02-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST no polarizado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)

UNE-EN IEC 62228-6:2022  UNE

Estado: Vigente / 2023-01-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 6: Transceptores PSI5 (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)

UNE-EN IEC 60749-37:2022  UNE

Estado: Vigente / 2025-12-15

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caída a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)

UNE-EN IEC 60747-16-8:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-02-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-8: Circuitos integrados de microondas. Limitadores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2023.)

UNE-EN IEC 60747-16-7:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-02-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-7: Circuitos integrados de microondas. Atenuadores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2023.)

UNE-EN IEC 63364-1:2023  UNE

Estado: Vigente / 2025-12-15

Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para el sistema IOT. Parte 1: Método de ensayo de detección de variación acústica. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2023.)

UNE-EN IEC 63287-2:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-06-01

Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 2: Concepto de perfil de misión (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2023.)

UNE-EN IEC 61967-8:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-07-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 8: Medición de las emisiones radiadas. Método IC de líneas TEM de placas. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2023.)