Comité

Comité:

CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Secretaría:
UNE - ASOCIACIÓN ESPAÑOLA DE NORMALIZACIÓN
Relaciones Internacionales:

IEC/TC 47  Dispositivos de semiconductores

CLC/TC 47X 

Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 47: 305

UNE-EN 60747-16-1:2002/A1:2007 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2007-05-01

Dispositivos semiconductores. Parte 16-1: Circuitos impresos de microondas. Amplificadores. (IEC 60747-16-1:2001/A1:2007). (Ratificada por AENOR en mayo de 2007.)

UNE-EN 60749-35:2006 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2007-01-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

UNE-EN 62047-2:2006 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2007-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 2: Dispositivos micro-electromecánicos. Métodos de ensayo de tensión de materiales de película fina (IEC 62047-2:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

UNE-EN 62047-3:2006 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2007-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 3: Dispositivos micro-electromecánicos. Pieza de ensayo patrón de película fina para ensayo de tensión (IEC 62047-3:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

UNE-EN 62373:2006 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2006-11-01

Ensayo de estabilidad a temperatura Bias para óxido metálico, semiconductores, transistores de efecto de campo (IEC 62373:2006) (Ratificada por AENOR en noviembre de 2006).

UNE-EN 60749-27:2006 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2006-11-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 27: Ensayo de la sensibilidad de la descarga electrostática. Modelo máquina (HBM) (IEC 60749-27:2006)(Ratificada por AENOR en noviembre de 2006.)

UNE-EN 62132-4:2006 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2006-08-01

Circuitos integrados. Medida de la inmunidad electromagnética desde 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Método de inyección de potencia directa de radiofrecuencia (IEC 62132-4:2006) (Ratificada por AENOR en agosto de 2006)

UNE-EN 61988-3-1:2006

Estado: VIGENTE  /  2006-04-12

Paneles de pantalla de plasma. Parte 3-1: Interfaz mecánica.

UNE-EN 62132-5:2006 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2006-04-01

Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética desde 150 kHz a 1 GHz. Parte 5: Método de la jaula de Faraday. (Ratificada por AENOR en abril de 2006.)

UNE-EN 61967-2:2005 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2006-01-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 2: Mediciones de la emisiones radiadas, método de célula TEM y célula TEM de banda ancha. (Ratificada por AENOR en enero de 2006.)

UNE-EN 61747-2-2:2004 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2005-04-01

Dispositivos de visualización de cristales líquidos. Parte 2-2: Módulos LCD color matriciales. Especificación marco particular (Ratificada por AENOR en abril de 2005)

UNE-EN 61747-4-1:2004 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2005-04-01

Dispositivos de visualización de cristales líquidos y semiconductores. Parte 4-1: Módulos LCD color matriciales. Características y valores esenciales (Ratificada por AENOR en abril de 2005)

UNE-EN 60749-33:2005

Estado: VIGENTE  /  2005-03-16

Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave no polarizada

UNE-EN 60749-23:2005

Estado: VIGENTE  /  2005-03-16

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida de funcionamiento a alta temperatura.

UNE-EN 60749-24:2005

Estado: VIGENTE  /  2005-03-16

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST no polarizado.

UNE-EN 60747-16-10:2004 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2004-11-01

Dispositivos de semiconductores . Parte 16-10:Plan de aprobación de tecnología (TAS) para circuitos integrados de microondas monolíticos (Ratificada por AENOR en noviembre de 2004)

UNE-EN 60747-16-4:2004 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2004-11-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-4: Circuitos integrados de microondas. Interruptores (Ratificada por AENOR en noviembre de 2004)

UNE-EN 60749-14:2004

Estado: VIGENTE  /  2004-06-11

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 14: Robustez de los terminales (integridad de los conectores).

UNE-EN 60749-1:2004

Estado: VIGENTE  /  2004-05-28

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades.

UNE-EN 60749-8:2004

Estado: VIGENTE  /  2004-05-28

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 8: Estanquidad.

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