UNE-EN 60749-35:2006 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 35: Microscopie acoustique pour composants électroniques à boîtier plastique (CEI 60749-35:2006) (Entérinée par l’AENOR en janvier 2007.)