Comité

Comité:

CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Secretaría:
UNE - ASOCIACIÓN ESPAÑOLA DE NORMALIZACIÓN
Relaciones Internacionales:

IEC/TC 47  Dispositivos de semiconductores

CLC/TC 47X 

Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 47: 305

UNE-EN IEC 60749-22-1:2026 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2026-02-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 22-1: Robustez de las uniones soldadas. Métodos de ensayo de tracción de unión por cable (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)

UNE-EN IEC 60749-22-2:2026 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2026-02-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 22-2: Robustez de las uniones soldadas. Métodos de ensayo de corte de unión por cable (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)

UNE-EN IEC 60749-7:2026 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2026-02-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)

UNE-EN IEC 60749-24:2026 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2026-02-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST no polarizado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)

UNE-EN 62132-1:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 1: Definiciones y condiciones generales (Ratificada por AENOR en abril de 2016.)

UNE-EN IEC 61967-1:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 1: Definiciones y condiciones generales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2019.)

UNE-EN IEC 62435-9:2021 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 9: Casos especiales (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)

UNE-EN 60749-25:2004

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 25: Ciclos de temperatura.

UNE-EN IEC 60749-28:2022 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

UNE-EN 60749-32:2004/A1:2011

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada externamente).

UNE-EN 60749-32:2004

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada externamente).

UNE-EN 62047-26:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 26: Descripción y métodos de medición para microsurcos y estructuras de agujas (Ratificada por AENOR en junio de 2016.)

UNE-EN IEC 63364-1:2023 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para el sistema IOT. Parte 1: Método de ensayo de detección de variación acústica. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2023.)

UNE-EN IEC 62969-2:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 2: Métodos de evaluación de la eficiencia de la transmisión de energía inalámbrica utilizando la resonancia para sensores de vehículos automóviles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-1:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 1: Requisitos generales de interfaz de alimentación para los sensores del vehículo automóvil (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-3:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 3: Captación de energía piezoeléctrica impulsada por choque para sensores de vehículos automóviles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-4:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 4: Método de evaluación de la interfaz de datos para sensores de vehículos de automoción (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2018.)

UNE-EN 62779-1:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos semiconductores. Interfaz semiconductora para comunicación con el cuerpo humano. Parte 1: Requisitos generales (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)

UNE-EN 62779-2:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos semiconductores. Interfaz semiconductora para comunicación con el cuerpo humano. Parte 2: Caracterización del funcionamiento de la interfaz (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)

UNE-EN 62779-3:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2025-12-15

Dispositivos semiconductores. Interfaz semiconductora para comunicación con el cuerpo humano. Parte 3: Tipo funcional y sus condiciones de funcionamiento. (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)

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