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Norma
UNE-EN IEC 60749-41:2020 (Ratificada)

UNE-EN IEC 60749-41:2020 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de ensayo estándar de fiabilidad de dispositivos de memoria no volátiles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2020.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 41: Méthodes d’essai normalisées pour la fiabilité des dispositifs à mémoire non volatile (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en octobre 2020.)

Fecha ratificación:
2020-10-01
Equivalencias internacionales:

EN IEC 60749-41:2020 (Idéntico)

IEC 60749-41:2020 (Idéntico)

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