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Norma
UNE-EN IEC 60749-18:2019 (Ratificada)

UNE-EN IEC 60749-18:2019 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2019.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2019.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 18: Rayonnements ionisants (dose totale) (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en juillet 2019.)

Fecha ratificación:
2019-07-01
Equivalencias internacionales:

EN IEC 60749-18:2019 (Idéntico)

IEC 60749-18:2019 (Idéntico)

Otras versiones vigentes :

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