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UNE-EN 60749-18:2003
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UNE-EN 60749-18:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 18: Rayonnements ionisants (dose totale)

Fecha Edición:
2003-11-21 /Anulada
Fecha anulación:
2022-05-16
ICS:

31.080.01 / Dispositivos semiconductores en general

CTN:

CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Equivalencias internacionales:

EN 60749-18:2003 (Idéntico)

IEC 60749-18:2002 (Idéntico)

IEC 60749-18:2003 (Idéntico)

Anulaciones:

Es anulada por: UNE-EN IEC 60749-18:2019 (Ratificada)