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Norma
UNE-EN 60749-37:2008 (Ratificada)

UNE-EN 60749-37:2008 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caida a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro. (Ratificada por AENOR en julio de 2008.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by AENOR in July of 2008.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 37: Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d¿un accéléromètre (Entérinée par l’AENOR en juillet 2008.)

Fecha ratificación:
2008-07-01
Equivalencias internacionales:

EN 60749-37:2008 (Idéntico)

IEC 60749-37:2008 (Idéntico)

Modificaciones:

Será modificada por: PNE-prEN IEC 60749-37:2020

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