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Norma
UNE-EN 60749-29:2004

UNE-EN 60749-29:2004

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29: Ensayo de enclavamiento.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 29: Latch-up test

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 29: Essai de verrouillage

Fecha Edición:
2004-07-09 /Anulada
Fecha anulación:
2014-07-10
Equivalencias internacionales:

EN 60749-29:2003 (Idéntico)

EN 60749-29:2003 CORR:2004 (Idéntico)

IEC 60749-29:2003 (Idéntico)

Anulaciones:

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Formato físico y digital

Español