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Norma
UNE-EN 60749-12:2003

UNE-EN 60749-12:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibraciones, frecuencias variables.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, fréquences variables

Fecha Edición:
2003-05-30 /Anulada
Fecha anulación:
2021-01-18
Equivalencias internacionales:

EN 60749-12:2002 (Idéntico)

IEC 60749-12:2002 (Idéntico)

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Formato físico y digital

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