UNE-EN 60749-37:2008 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caida a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro. (Ratificada por AENOR en julio de 2008.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 37: Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d’un accéléromètre