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Norma
IEC 60749-12:2017

IEC 60749-12:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, fréquences variables

Fecha:
2017-12-13 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 60749-12:2017 describes a test to determine the effect of variable frequency vibration, within the specified frequency range, on internal structural elements. This is a destructive test. It is normally applicable to cavity-type packages
This second edition cancels and replaces the first edition published in 2002. This edition constitutes a technical revision. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) alignment with MIL-STD-883J Method 2007, Vibration, variable frequency.
Resumen (francés):
l'IEC 60749-12:2017 décrit lessai de vibrations à fréquences variables réalisé pour déterminer leffet des vibrations sur les éléments de la structure interne, dans les limites de la gamme des fréquences spécifiées. Il sagit dun essai destructif. Il est normalement applicable aux boîtiers de type à cavité.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 2002. La présente édition constitue une révision technique. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) alignement sur le document MIL-STD-883J Méthode 2007, Vibrations, fréquences variables.

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