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Número de resultados: 298

UNE-EN 60601-2-47:2015  UNE

Estado: Vigente

Equipos electromédicos. Parte 2-47: Requisitos particulares para la seguridad básica y el funcionamiento esencial de los sistemas de electrocardiografía ambulatoria. (Ratificada por AENOR en julio de 2015.)

CTN 209/SC 62 Equipos eléctricos en la práctica médica

UNE-EN 150010:1991  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco de detalle: Características nominales ambientales de los tiristores. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 61967-5:2003  UNE

Estado: Vigente

Circuitos integrados. Medición de las emisiones electromagnéticas desde 150 kHz a 1 GHz. Parte 5: Medición de las emisiones conducidas por el método de la jaula de Faraday. (Ratificada por AENOR en julio de 2003)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 61967-2:2005  UNE

Estado: Vigente

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 2: Mediciones de la emisiones radiadas, método de célula TEM y célula TEM de banda ancha. (Ratificada por AENOR en enero de 2006.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 62258-1:2010  UNE

Estado: Vigente

Productos de pastillas semiconductores. Parte 1: Compra y uso. (Ratificada por AENOR en febrero de 2011.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 62258-2:2011  UNE

Estado: Vigente

Productos de pastillas semiconductores. Parte 2: Formatos de intercambio de datos. (Ratificada por AENOR en octubre de 2011.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 62228-2:2017  UNE

Estado: Vigente

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transmisores. Parte 2: Transmisores LIN (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2017.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 62433-4:2016  UNE

Estado: Vigente

Modelado de CEM de circuitos integrados. Parte 4: Modelos de circuitos integrados para la simulación del comportamiento de inmunidad RF. Modelado de inmunidad conducida (ICIM-CI) (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 62433-3:2017  UNE

Estado: Vigente

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 3: Modelos de circuitos integrados para simulación funcional de EMI. Modelo de emisión radiado (ICEM-RE). (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 62433-2:2017  UNE

Estado: Vigente

Compatibilidad electromagnética. Parte 2: Modelos de circuitos integrados para simulación funcional de EMI. Modelo de emisión conducido (ICEM-CE) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2017.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN IEC 62228-1:2018  UNE

Estado: Vigente

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 1: Condiciones generales y definiciones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2018.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN IEC 62433-1:2019/AC:2020-07  UNE

Estado: Vigente

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 1: Marco general de modelado (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2020.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN IEC 62433-1:2019  UNE

Estado: Vigente

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 1: Marco general de modelado (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN IEC 62228-5:2021  UNE

Estado: Vigente

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 5: Transceptores Ethernet (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2021.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN IEC 62228-3:2019  UNE

Estado: Vigente

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 3: Transceptores CAN (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN IEC 62433-6:2020  UNE

Estado: Vigente

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 6: Modelos de circuitos integrados para la simulación del comportamiento de la inmunidad de pulso. Inmunidad de pulso conducida (ICIM-CPI) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2021.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN IEC 62228-7:2022  UNE

Estado: Vigente

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 7: Transceptores CXPI (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE 21796-3:1994  UNE

Estado: Vigente

Bus I sistema microprocesador, datos: 8 bits y 16 bits. Parte 3: descripción mecánica y de terminales para la configuración con conectores de terminales y zócalos (indirectos).

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE 20700-11:1991  UNE

Estado: Vigente

Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Especificación intermedia para los dispositivos discretos.

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE 20822:1993  UNE

Estado: Vigente

CEI 822 VSB. Bus paralelo de subsistemas del Bus CEI 821. VME-Bus.

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE 21559:1994  UNE

Estado: Vigente

Aritmética binaria en coma flotante para sistemas con microprocesador.

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE 21321:1978  UNE

Estado: Vigente

Símbolos literales para los dispositivos con semiconductores y microcircuitos integrados.

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 61747-1:1999  UNE

Estado: Vigente

Dispositivos de visualización de cristales líquidos y semiconductores. Parte 1: Especificación genérica. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1999.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 61747-2:1999  UNE

Estado: Vigente

Dispositivos de visualización de cristales líquidos y semiconductores. Parte 2: Módulos de visualización con cristal líquido. Especificación intermedia. (Ratificada por AENOR en junio de 1999.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 61747-5:1998  UNE

Estado: Vigente

Dispositivos de visualización de cristales líquido y semiconductores. Parte 5: Métodos de ensayo ambientales, mecánicos y de endurancia. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1998.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 150001:1991  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco de detalle: Diodos semiconductores para usos generales. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 150004:1991  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco de detalle: Transistores bipolares para ser empleados como interruptor. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 150006:1991  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco de detalle: Diodos de capacidad variable. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 150007:1991  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco de detalle: Características nominales del encapsulado de los transistores bipolares para amplificación de alta frecuencia. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 150008:1992  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco particular: Características nominales ambientales de los diodos rectificadores. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 150009:1992  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco particular: Características nominales del encapsulado de los diodos rectificadores. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 163100:1991  UNE

Estado: Vigente

Especificación intermedia: Circuitos integrados de película e híbridos. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 163101:1991  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco de detalle: Circuitos integrados de película e híbridos. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 165000-1:1996  UNE

Estado: Vigente

Circuitos integrados de película e híbridos. Parte 1: Especificación genérica. Procedimiento de aprobación de la cualificación. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 150003:1991  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco de detalle: Características nominales del encapsulado de los transistores bipolares para amplificación de baja frecuencia. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 120007:1992  UNE

Estado: Vigente

ESPECIFICACIÓN MARCO PARTICULAR: PANTALLAS DE CRISTAL LÍQUIDO (LCD). LCD MONOCROMOS SIN CIRCUITO ELECTRÓNICO. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 120008:1993  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco particular: Diodos emisores de luz y de infrarrojos para sistemas o subsistemas de fibra óptica. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 60821:1994  UNE

Estado: Vigente

Bus CEI 821 VMEbus. Bus para sistemas de microprocesadores de datos de 1 a 4 octetos. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1997.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 190101:1994  UNE

Estado: Vigente

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL. Series 54, 64, 74, 84. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 190102:1994  UNE

Estado: Vigente

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL-Schottky. Series 54S, 64S, 74S, 84S. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 190103:1994  UNE

Estado: Vigente

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL-Schottky de baja potencia. Series 54LS, 64LS, 74LS, 84LS. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 190106:1994  UNE

Estado: Vigente

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL-Schottky avanzados de baja potencia. Series 54ALS, 74ALS. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 190107:1994  UNE

Estado: Vigente

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL rápidos. Series 54F, 74F. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 190108:1994  UNE

Estado: Vigente

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados avanzados TTL. Series 54AS, 74AS. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 190109:1994  UNE

Estado: Vigente

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados HC MOS. Series HC/HCT/HCU. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 190110:1994  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco de detalle: Circuitos integrados con microprocesador digital. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 190116:1993  UNE

Estado: Vigente

ESPECIFICACIÓN DE FAMILIA: CIRCUITOS DIGITALES integrados AC MOS. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 190000:1992  UNE

Estado: Vigente

Especificación genérica: circuitos integrados monolíticos. (Ratificada por AENOR en enero de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 190100:1993  UNE

Estado: Vigente

Especificación intermedia: Circuitos integrados digitales monolíticos. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

UNE-EN 120003:1992  UNE

Estado: Vigente

Especificación marco particular: Fototransistores, fototransistores darlington, matrices de fototransistores. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores

Número de resultados: 298

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