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Norma
UNE-EN IEC 60749-17:2019 (Ratificada)

UNE-EN IEC 60749-17:2019 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2019.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 17: Irradiation aux neutrons (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en juin 2019.)

Fecha ratificación:
2019-06-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN IEC 60749-17:2019 (Idéntico)

IEC 60749-17:2019 (Idéntico)

Anulaciones:

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