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Comité

Comité:

CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Secretaría:
UNE - ASOCIACIÓN ESPAÑOLA DE NORMALIZACIÓN
Relaciones Internacionales:

IEC/TC 47  Dispositivos de semiconductores

CLC/TC 47X 

Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 47: 299

UNE-EN IEC 61967-4:2021 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2021-06-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 4 Mediciones de emisiones conducidas, método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2021.)

UNE-EN IEC 62435-7:2021 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2021-04-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 7: Dispositivos micro-electromecánicos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2021.)

UNE-EN IEC 60747-17:2020/AC:2021-02 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2021-03-01

Dispositivos semiconductores. Parte 17: Acoplador magnético y capacitivo para aislamiento básico y reforzado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2021.)

UNE-EN IEC 60747-17:2020 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2021-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 17: Acoplador magnético y capacitivo para aislamiento básico y reforzado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2021.)

UNE-EN IEC 62433-6:2020 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2021-01-01

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 6: Modelos de circuitos integrados para la simulación del comportamiento de la inmunidad de pulso. Inmunidad de pulso conducida (ICIM-CPI) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2021.)

UNE-EN IEC 60749-20:2020 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2020-11-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 20: Resistencia de los dispositivos de montaje superficial (SMD) encapsulados en plástico al efecto combinado de humedad y de calor de soldadura. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)

UNE-EN IEC 60749-15:2020 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2020-11-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados con agujeros pasantes. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)

UNE-EN IEC 60749-30:2020 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2020-11-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)

UNE-EN IEC 62435-8:2020 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2020-10-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 8: Dispositivos electrónicos pasivos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

UNE-EN IEC 60749-41:2020 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2020-10-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de ensayo estándar de fiabilidad de dispositivos de memoria no volátiles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

UNE-EN 60747-16-5:2013/A1:2020 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2020-10-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas. Osciladores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

UNE-EN IEC 60747-5-5:2020 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2020-10-01

Dispositivos semiconductores. Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos. Fotoacopladores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

UNE-EN IEC 62433-1:2019/AC:2020-07 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2020-09-01

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 1: Marco general de modelado (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2020.)

UNE-EN IEC 62435-3:2020 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2020-06-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 3: Datos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2020.)

UNE-EN IEC 60747-16-6:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-10-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-6: Circuitos integrados de microondas. Multiplicadores de frecuencia (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2019.)

UNE-EN IEC 60749-18:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2019.)

UNE-EN IEC 62228-3:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-06-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 3: Transceptores CAN (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

UNE-EN IEC 60749-17:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-06-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

UNE-EN IEC 62433-1:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-06-01

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 1: Marco general de modelado (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

UNE-EN IEC 61967-1:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-03-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 1: Definiciones y condiciones generales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2019.)

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