Comité:
IEC/TC 47 Dispositivos de semiconductores
CLC/TC 47X
Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 47: 305
Estado: ANULADA / 2024-04-25
ESPECIFICACIÓN MARCO PARTICULAR: DIODOS EMISORES DE LUZ (LED), MATRICES DE LEDS, PANTALLAS DE MATRICES DE LEDS SIN LÓGICA INTERNA NI RESISTENCIA. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Especificación marco particular: Fotodiodos, matrices de fotodiodos (para aplicaciones distintas a fibra óptica). (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Especificación marco particular: Fototransistores, fototransistores darlington, matrices de fototransistores. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Estado: ANULADA / 2024-04-21
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Mediciones de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2017.)
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Mediciones de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por AENOR en abril de 2006.)
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Mediciones de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
Estado: ANULADA / 2023-10-06
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 20: Resistencia de los dispositivos de montaje superficial (SMD) encapsulados en plástico al efecto combinado de humedad y de calor de soldadura. (Ratificada por AENOR en julio de 2012.)
Estado: ANULADA / 2023-10-05
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-2: Dispositivos optoelectrónicos. Clasificaciones y características fundamentales. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-2: Dispositivos optoelectrónicos. Clasificaciones y características fundamentales. (Ratificada por AENOR en octubre de 2001).
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medida. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medida. (Ratificada por AENOR en octubre de 2001)
Estado: ANULADA / 2023-09-28
Circuitos integrados de película e híbridos. Parte 1: Especificación genérica. Procedimiento de aprobación de la cualificación. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1996.)
Circuitos integrados de película e híbridos. Parte 2: Inspección visual interna y ensayos especiales. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1996.)
Circuitos integrados de película e híbridos. Parte 3: Informe y lista de control de autoinspección para fabricantes de circuitos integrados de película e híbridos. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1996.)
Circuitos integrados de película e híbridos. Parte 4: Información para el cliente, programas de evaluación del nivel del producto y especificación marco de detalle. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1996.)
ESPECIFICACIÓN DE FAMILIA: CIRCUITOS DIGITALES integrados AC MOS. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Especificación de familia: Circuitos digitales integrados avanzados TTL. Series 54AS, 74AS. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Especificación de familia: Circuitos digitales integrados HC MOS. Series HC/HCT/HCU. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL rápidos. Series 54F, 74F. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL. Series 54, 64, 74, 84. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
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