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Comité

Comité:

CTN 209/SC 47 - DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

Inactivo
Secretaría:
AMETIC - ASOCIACIÓN MULTISECTORIAL EMPRESAS DE LA ELECTRÓNICA, LAS TI, LA COMUNICACIÓN DE LAS TELECOMUNICACIONES Y DE LOS CONTENIDOS DIGITALES
Relaciones Internacionales:

CLC/SR 47  Dispositivos de semiconductores

CLC/SR 47A  Circuitos integrados

CLC/SR 47D  Encapsulado de dispositivos semiconductores

CLC/SR 47E  Dispositivos semiconductores discretos

CLC/SR 47F  Sistemas microelectromecánicos

IEC/TC 47  Dispositivos de semiconductores

IEC/SC 47A  Circuitos integrados

IEC/SC 47D  Encapsulado de dispositivos semiconductores

IEC/SC 47E  Dispositivos semiconductores discretos

IEC/SC 47F  Sistemas microelectromecánicos

Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 47: 264

UNE-EN IEC 60749-18:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2019.)

UNE-EN IEC 62228-3:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-06-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 3: Transceptores CAN (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

UNE-EN IEC 60749-17:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-06-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

UNE-EN IEC 62433-1:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-06-01

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 1: Marco general de modelado (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

UNE-EN IEC 61967-1:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-03-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 1: Definiciones y condiciones generales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2019.)

UNE-EN IEC 62435-6:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-12-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 6: Dispositivos empaquetados o terminados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-4:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-10-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 4: Método de evaluación de la interfaz de datos para sensores de vehículos de automoción (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2018.)

UNE-EN IEC 62435-4:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-09-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 4: Almacenamiento. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-3:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-08-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 3: Captación de energía piezoeléctrica impulsada por choque para sensores de vehículos automóviles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2018.)

UNE-EN IEC 62228-1:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-07-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 1: Condiciones generales y definiciones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-2:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-06-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 2: Métodos de evaluación de la eficiencia de la transmisión de energía inalámbrica utilizando la resonancia para sensores de vehículos automóviles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2018.)

UNE-EN 60191-4:2014/A1:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-06-01

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 4: Sistema de codificación y clasificación para los tipos y formas de los encapsulados de dispositivos semiconductores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2018.)

UNE-EN IEC 60749-13:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-05-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)

UNE-EN IEC 60749-26:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-05-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 26: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)

UNE-EN IEC 60191-1:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-05-01

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 1: Requisitos generales para la preparación de esquemas de dispositivos discretos. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)

UNE-EN IEC 60749-12:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-04-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibraciones, frecuencias variables. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-1:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-03-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 1: Requisitos generales de interfaz de alimentación para los sensores del vehículo automóvil (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2018.)

UNE-EN 60747-16-3:2002/A2:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: Circuitos impresos de microondas. Convertidores de frecuencia. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2018.)

UNE-EN 60747-16-4:2004/A2:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-12-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-4: Circuitos integrados de microondas. Interruptores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2017.)

UNE-EN 60749-43:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-10-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para los planes de cualificación de fiabilidad de circuitos integrados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2017.)