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Norma
UNE-EN 60749-44:2016 (Ratificada)

UNE-EN 60749-44:2016 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de ensayo por efecto de evento único (SEE) mediante haz de neutrones irradiados para dispositivos semiconductores. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44: Méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs (Entérinée par l'AENOR en décembre 2016.)

Fecha ratificación:
2016-12-01
Equivalencias internacionales:

EN 60749-44:2016 (Idéntico)

IEC 60749-44:2016 (Idéntico)

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