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Norma
UNE-EN 15991:2015 (Ratificada)

UNE-EN 15991:2015 (Ratificada)

Ensayo de materiales cerámicos y básicos. Determinación directa de las fracciones másicas de impurezas en los polvos y granos de carburo de silicio mediante espectroscopia de emisión óptica mediante plasma de acoplamiento inductivo (ICP OES) con vaporización electrotérmica (ETV) (Ratificada por AENOR en enero de 2016.)

Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) (Endorsed by AENOR in January of 2016.)

Essais sur matériaux céramiques et basiques - Détermination directe des fractions massiques d'impuretés dans les poudres et les granulés de carbure de silicium par spectroscopie d'émission optique à plasma induit par haute fréquence (ICP OES) avec vaporisation électrothermique (ETV) (Entérinée par l’AENOR en janvier 2016.)

Fecha ratificación:
2016-01-01
Equivalencias internacionales:

EN 15991:2015 (Idéntico)

Anulaciones:

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Esta norma está disponible en:

Formato físico y digital

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