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Norma
UNE-EN 62047-22:2014 (Ratificada)

UNE-EN 62047-22:2014 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 22: Métodos de ensayo de tensión electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles (Ratificada por AENOR en noviembre de 2014.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (Endorsed by AENOR in November of 2014.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 22: Méthode d'essai de traction électromécanique pour les couches minces conductrices sur des substrats souples (Entérinée par l’AENOR en novembre 2014.)

Fecha ratificación:
2014-11-01
Equivalencias internacionales:

EN 62047-22:2014 (Idéntico)

IEC 62047-22:2014 (Idéntico)

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