Saltar navegación principal
Norma
UNE-EN 62047-18:2013 (Ratificada)

UNE-EN 62047-18:2013 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 18: Métodos de ensayo de doblado para materiales de película fina. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (Endorsed by AENOR in November of 2013.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositif microélectromécaniques - Partie 18: Méthodes d’essai de flexion des matériaux en couche mince (Entérinée par l’AENOR en novembre 2013.)

Fecha ratificación:
2013-11-01
Equivalencias internacionales:

EN 62047-18:2013 (Idéntico)

IEC 62047-18:2013 (Idéntico)

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato físico y digital

Inglés