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Norma
UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 (Ratificada)

UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 27: Ensayo de la sensibilidad de la descarga electrostática. Modelo máquina (HBM) (Ratificada por AENOR en enero de 2013.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM) (Entérinée par l’AENOR en janvier 2013.)

Fecha ratificación:
2013-01-01
Equivalencias internacionales:

EN 60749-27:2006/A1:2012 (Idéntico)

IEC 60749-27:2006/A1:2012 (Idéntico)

Modificaciones:

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