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Norma
UNE-EN 62132-8:2012 (Ratificada)

UNE-EN 62132-8:2012 (Ratificada)

Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 8: Medición de la inmunidad radiada. Método de la línea TEM de placas con circuito integrado (IC) (Ratificada por AENOR en noviembre de 2012.)

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method (Endorsed by AENOR in November of 2012.)

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré (Entérinée par l’AENOR en novembre 2012.)

Fecha ratificación:
2012-11-01
Equivalencias internacionales:

EN 62132-8:2012 (Idéntico)

IEC 62132-8:2012 (Idéntico)

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