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Norma
UNE-EN 62047-14:2012 (Ratificada)

UNE-EN 62047-14:2012 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 14: Método de medición del límite de formación de los materiales de película metálica. (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials (Endorsed by AENOR in June of 2012.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 14: Méthode de mesure des limites de formage des matériaux à couche métallique (Entérinée par l’AENOR en juin 2012.)

Fecha ratificación:
2012-06-01
Equivalencias internacionales:

EN 62047-14:2012 (Idéntico)

IEC 62047-14:2012 (Idéntico)

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