Saltar navegación principal
Norma
UNE-EN 60749-40:2011 (Ratificada)

UNE-EN 60749-40:2011 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de ensayo de caída al nivel de la plataforma mediante la utilización de galgas extensométricas (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (Endorsed by AENOR in November of 2011.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 40: Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'une jauge de contrainte (Entérinée par l’AENOR en novembre 2011.)

Fecha ratificación:
2011-11-01
Equivalencias internacionales:

EN 60749-40:2011 (Idéntico)

IEC 60749-40:2011 (Idéntico)

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato físico y digital

Inglés