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Norma
UNE-EN 62047-8:2011 (Ratificada)

UNE-EN 62047-8:2011 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 8: Métodos de ensayo de curvado en banda la medida de propiedades de tensión de las películas finas(Ratificada por AENOR en septiembre de 2011.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (Endorsed by AENOR in September of 2011.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 8: Méthode d'essai de la flexion de bandes en vue de la mesure des propriétés de traction des couches minces (Entérinée par l’AENOR en septembre 2011.)

Fecha ratificación:
2011-09-01
Equivalencias internacionales:

EN 62047-8:2011 (Idéntico)

IEC 62047-8:2011 (Idéntico)

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