UNE-EN 62374-1:2010 (Ratificada)
Dispositivos semiconductores. Ensayo de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas (Ratificada por AENOR en marzo de 2011.)
Semiconductor devices -- Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (Endorsed by AENOR in March of 2011.)
Dispositifs à semiconducteurs -- Partie 1: Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermétalliques (Entérinée par l’AENOR en mars 2011.)
