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Norma
UNE-EN 62374-1:2010 (Ratificada)

UNE-EN 62374-1:2010 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Ensayo de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas (Ratificada por AENOR en marzo de 2011.)

Semiconductor devices -- Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (Endorsed by AENOR in March of 2011.)

Dispositifs à semiconducteurs -- Partie 1: Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermétalliques (Entérinée par l’AENOR en mars 2011.)

Fecha ratificación:
2011-03-01
Equivalencias internacionales:

EN 62374-1:2010 (Idéntico)

EN 62374-1:2010/AC:2011 (Idéntico)

IEC 62374-1:2010 (Idéntico)

Anulaciones:

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