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Norma
UNE-EN 62418:2010 (Ratificada)

UNE-EN 62418:2010 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Ensayo de esfuerzos para metalización en vacio (Ratificada por AENOR en octubre de 2010.)

Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.)

Dispositifs à semi-conducteurs - Essai sur les cavités dues aux contraintes de la métallisation (Entérinée par l’AENOR en octobre 2010.)

Fecha ratificación:
2010-10-01
Equivalencias internacionales:

EN 62418:2010 (Idéntico)

IEC 62418:2010 (Idéntico)

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