UNE-EN 62415:2010 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Ensayo de electromigración de intensidad constante. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2010.)

Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

Dispositifs à semiconducteurs - Essai d'électromigration en courant constant (Entérinée par l’AENOR en septembre 2010.)