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Norma
UNE-EN 62415:2010 (Ratificada)

UNE-EN 62415:2010 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Ensayo de electromigración de intensidad constante. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2010.)

Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

Dispositifs à semiconducteurs - Essai d'électromigration en courant constant (Entérinée par l’AENOR en septembre 2010.)

Fecha ratificación:
2010-09-01
Equivalencias internacionales:

EN 62415:2010 (Idéntico)

IEC 62415:2010 (Idéntico)

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