Saltar navegación principal
Norma
UNE-EN 62417:2010 (Ratificada)

UNE-EN 62417:2010 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Ensayos de iones móviles para transistores de semiconductores de óxido metálico de efecto de campo (MOSFET) (Ratificada por AENOR en septiembre de 2010.)

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

Dispositifs à semiconducteurs - Essais d'ions mobiles pour transistors à semiconducteur à oxyde métallique à effet de champ (MOSFET) (Entérinée par l’AENOR en septembre 2010.)

Fecha ratificación:
2010-09-01
Equivalencias internacionales:

EN 62417:2010 (Idéntico)

IEC 62417:2010 (Idéntico)

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato físico y digital

Inglés