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Norma
UNE-EN 60749-20-1:2009 (Ratificada)

UNE-EN 60749-20-1:2009 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 20-1: Manejo, empaquetado, etiquetado y transporte de los dispositivos con montaje en superficie que son sensibles a los efectos combinados de la humedad y al calentamiento de soldado. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2009.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by AENOR in September of 2009.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 20-1: Manipulation, emballage, étiquetage et transport des composants pour montage en surface sensibles à l'effet combiné de l'humidité et de la chaleur de brasage (Entérinée par l’AENOR en septembre 2009.)

Fecha ratificación:
2009-09-01
Equivalencias internacionales:

EN 60749-20-1:2009 (Idéntico)

IEC 60749-20-1:2009 (Idéntico)

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