UNE-EN 62374:2007 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Ensayo de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de paso. (IEC 62374:2007). (Ratificada por AENOR en febrero de 2008.)

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007). (Endorsed by AENOR in February of 2008.)

Dispositifs à semiconductors - Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour films diélectriques de grille (CEI 62374:2007). (Entérinée par l’AENOR en février 2008.)