UNE-EN 60749-14:2004
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 14: Robustez de los terminales (integridad de los conectores).
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 14: Robustesse des sorties (intégrité des connexions)