UNE-EN 60749-31:2004

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada internamente).

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 31: Inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation).