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Norma
UNE-EN 60749-17:2003

UNE-EN 60749-17:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 17: Neutron irradiation

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 17: Irradiation aux neutrons

Fecha Edición:
2003-11-21 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-17:2003 (Idéntico)

IEC 60749-17:2003 (Idéntico)

Otras versiones vigentes :

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Esta norma está disponible en:

Formato físico y digital

Español / Inglés