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Norma
UNE-EN 60749-13:2003

UNE-EN 60749-13:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13: Atmosphère saline

Fecha Edición:
2003-05-30 /Anulada
Fecha anulación:
2021-03-23
Equivalencias internacionales:

EN 60749-13:2002 (Idéntico)

IEC 60749-13:2002 (Idéntico)

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Formato físico y digital

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