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Norma
UNE-EN 60749-10:2003

UNE-EN 60749-10:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choques mecánicos.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 10: Mechanical shock.

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 10: Chocs mécaniques.

Fecha Edición:
2003-05-30 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-10:2002 (Idéntico)

IEC 60749-10:2002 (Idéntico)

Anulaciones:

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Esta norma está disponible en:

Formato físico y digital

Español / Inglés