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Norma
UNE-EN 60747-5-3:2001/A1:2002 (Ratificada)

UNE-EN 60747-5-3:2001/A1:2002 (Ratificada)

Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medida. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)

Discrete semiconductor devices and integrated circuits -- Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods (Endorsed by AENOR in November of 2002.)

Dispositifs discrets à semiconducteurs et circuits intégrés -- Partie 5-3: Dispositifs optoélectroniques - Méthodes de mesure (Entérinée par l’AENOR en novembre 2002.)

Fecha ratificación:
2002-11-01
Equivalencias internacionales:

EN 60747-5-3:2001/A1:2002 (Idéntico)

IEC 60747-5-3:2001/A1:2002 (Idéntico)

Modificaciones:

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