Saltar navegación principal
Norma
UNE-EN 60444-3:1997 (Ratificada)

UNE-EN 60444-3:1997 (Ratificada)

Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en pi. Parte 3: Método básico para la medida de parámetros de dos terminales de unidades de cristal de cuarzo hasta 200 MHz por la técnica en fase en los circuitos en pi con compensación de la capacidad paralela Co. (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)

MEASUREMENT OF QUARTZ CRYSTAL UNIT PARAMETERS BY ZERO PHASE TECHNIQUE IN A PI-NETWORK. PART 3: BASIC METHOD FOR THE MEASUREMENT OF TWO-TERMINAL PARAMETERS OF QUARTZ CRYSTAL UNITS UP TO 200 MHZ BY PHASE TECHNIQUE IN A PI-NETWORK WITH COMPENSATION OF THE PARALLEL CAPACITANCE CO. (Endorsed by AENOR in October of 1997.)

Fecha ratificación:
1997-10-01
Equivalencias internacionales:

EN 60444-3:1997 (Idéntico)

IEC 444-3:1986 (Idéntico)

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato físico y digital

Inglés